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微區(qū)探頭Ava-Probe-M

Ava-Probe-M是專門針對微小區(qū)域(≤1mm)的反射率測試設計的,適用于表面平整,形狀規(guī)則的材料。探頭配合不同芯徑的光纖,可實現不同區(qū)域大小反射光譜的測量。使用過程中,可通過觀察窗,觀察確認樣品的測量。

微區(qū)光譜測量結合顯微系統與光譜儀,能夠在微米級尺度上獲取樣品的光學特性。其典型應用包括:

1.    工業(yè)材料檢測與器件性能優(yōu)化

·  納米材料表征:如金屬納米陣列的表面等離激元共振吸收分析,調控光電器件的響應波長

·  半導體材料研究:檢測晶圓表面微區(qū)反射光譜,評估材料能帶結構及雜質分布,提升器件性能。識別材料表面缺陷,測量鍍膜材料的反射率、厚度均勻性及缺陷分布,優(yōu)化薄膜工藝

·  光電探測器優(yōu)化:檢測表面等離激元器件的共振吸收光譜,調控納米結構尺寸以增強光響應性能;高Q值光纖諧振腔的反射譜測量

2. 環(huán)境與農業(yè)監(jiān)測

·  土壤污染評估:通過測量作物葉片(如水稻)光譜,分析土壤重金屬(如Cd、As)含量,支持農田環(huán)境治理

·  土壤有機質分析:通過測量土壤光譜,分析預測干旱區(qū)荒地有機質含量

·  作物健康監(jiān)測:通過植物葉片光譜變化診斷重金屬脅迫或營養(yǎng)缺失,輔助精準農業(yè)

3. 生物醫(yī)學與生命科學

·  細胞及組織分析:在微米尺度下檢測生物樣本(如腫瘤組織)的反射光譜差異,輔助病理研究

·  藥物載體研究:分析藥物緩釋材料的微區(qū)光學特性,優(yōu)化載藥效率與釋放行為






技術數據

接口

SMA905

光路

45°照明,垂直接收

空間分辨率

φ50μm±5μm @FC-UVIR200

 材質

鋁合金(陽極氧化黑)

溫度/濕度范圍

/

外形尺寸/重量

95x95x125mm/1.05kg